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Chakradhar, Srimat T.,

Neural models and algorithms for digital testing / Srimat t. chakradhar, vishwani d. agrawal, Michael l. bushnell - 183 páginas - The kluwer international series in engineering and computer science ; secs 140 .

ISBN: 0792391659 (papel no acido)

Subjects--Topical Terms:
Circuitos lógicos--Pruebas
Equipo de prueba automático
Circuitos integrados digitales--Pruebas--Procesamiento de datos

LC Class. No.: TK7868.L6 / C43