Vista normal Vista MARC Vista ISBD

Sampling, wavelets, and tomography / John J. Benedetto, Ahmed I. Zayed, editors - xxi, 344 páginas : ilustraciones ; - Applied and numerical harmonic analysis .

ISBN: 0817643044 (papel alcalino) 3764343044 (Basel : papel alcalino)

Subjects--Topical Terms:
Análisis armónico
Tren de ondas (Matemáticas)
Análisis de Fourier
Muestreo (Estadística)
Tomografía

LC Class. No.: QA403 / S33