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Scanning tunneling microscopy/spectroscopy and related techniques : 12th international conference, Eindhoven, the Netherlands / editors, P. M. Koenraad, M. Kemerink - xviii, 179 páginas : ilustraciones + 1 disco compacto (4 3/4 plg.) - AIP conference proceedings ; v. 696 . - AIP conference proceedings .

ISBN: 0735401683

Subjects--Topical Terms:
Microscopía túnel de barrido--Congresos
Espectroscopía por tunelaje--Congresos

LC Class. No.: QH212.S35 / I57 2003