Practical methods in electron microscopy / ed. by Audrey M. Glauert
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TextoEditor: Amsterdam : New York : North-holland ; American Elsevier, 1972-Descripción: volúmenesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0720442508Tema(s): Microscopía electrónica -- TécnicaClasificación LoC:QH212.E4 | P7 1972| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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| QH212.E4 M58 Image analysis : | QH212.E4 M58 Image analysis : | QH212.E4 P7 1972 Practical methods in electron microscopy / | QH212.E4 P7 1972 Practical methods in electron microscopy / | QH212.E4 P7 1972 Practical methods in electron microscopy / | QH212.E4 P7 1972 Practical methods in electron microscopy / | QH212.E4 R43 Recent advances in electron and light optical imaging in biology and medicine |
Contenido: v. 1, pt. 1. Specimen preparation in materials science / P.J. Goodhew. pt. 2. Electron diffraction and optical diffraction techniques / B.E.P. Beeston, R.W. Horne, and R. Markham -- v. 2. Principles and practice of electron microscope operation -- v. 3, pt. 1. Fixation, dehydration, and embedding of biological specimens / A.M. Glauert. pt. 2. Ultramicrotomy / N. Reid -- v. 4. Design of the electron microscope laboratory / R.H. Alderson -- v. 5, pt. 1. Staining methods for sectioned material / P.R. Lewis. pt. 2. X-ray microanalysis in the electron microscope / J.A. Chandler -- v. 6, pt. 1. Autoradiography and immunocytochemistry / M.A. Williams. pt. 2. Quantitative methods in biology / M.A. Williams -- v. 7. Image analysis, enhancement, and interpretation / D.L. Misell -- v. 8. Replica, shadowing, and freeze-etching techniques / J.H.M. Willison -- v. 9. Dynamic experiments in the electron microscope / E.P. Butler, K.F. Hale -- v. 10. Low temperature methods in biological electron microscopy / A.W. Robards, U.B. Sleytr -- v. 14. Cytochemical staining methods for electron microscopy / P.R. Lewis, D.P. Knight -- v. 17. Biological specimen preparation for transmission electron microscopy / Audrey M. Glauert, Peter R. Lewis.
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