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Electron microscopy and analysis / Peter J. Goodhew, John Humphreys, Richard Beanland
Tipo de material:
TextoEditor: London : Taylor & Francis, 2001Edición: 3rd edDescripción: x, 251 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0748409688Tema(s): Microscopía electrónicaClasificación LoC:QH212.E4 | G642 2001
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros Libros | Coleccion General | QH212.E4 G642 2001 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 100886 | ||
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Libros Libros | Coleccion General | QH212.E4 G642 2001 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 100885 |
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compra 2013/06/06 468.07
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