Chakradhar, Srimat T., <br/><br/>
Neural models and algorithms for digital testing / 
Srimat t. chakradhar, vishwani d. agrawal, Michael l. bushnell 
 - 183 páginas 
 - The kluwer international series in engineering and computer science ;  secs 140 .
<br/><br/><label>ISBN: </label>0792391659  (papel no acido) 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Circuitos lógicos--Pruebas<br/>Equipo de prueba automático<br/>Circuitos integrados digitales--Pruebas--Procesamiento de datos
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>TK7868.L6  / C43