Cheung, Kin P., Plasma charging damage / Kin P. Cheung - xii, 346 páginas : ilustraciones ISBN: 1852331445 (papel alcalino) Subjects--Topical Terms: Semiconductores--Efectos de la radiaciónSemiconductores de metal-óxido--DefectosRadiación del plasma LC Class. No.: TK7871.85 / C497 Dewey Class. No.: 621.3815/2