Cheung, Kin P.,

Plasma charging damage / Kin P. Cheung - xii, 346 páginas : ilustraciones

1852331445 (papel alcalino)


Semiconductores--Efectos de la radiación
Semiconductores de metal-óxido--Defectos
Radiación del plasma

TK7871.85 / C497

621.3815/2