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Plasma charging damage / Kin P. Cheung
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TextoEditor: London : Springer Verlag, c2001Descripción: xii, 346 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 1852331445 (papel alcalino)Tema(s): Semiconductores -- Efectos de la radiación | Semiconductores de metal-óxido -- Defectos | Radiación del plasmaClasificación CDD: 621.3815/2 Clasificación LoC:TK7871.85 | C497
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | Coleccion General | TK7871.85 C497 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 101548 |
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compra 2013/06/06 1253.00
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